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Letras Universidad de Sevilla
23/03/2018Abierto plazo de inscripción para cursos de formación en el Servicio General de Investigación de Microscopía de la Univerisdad de Sevilla
Microscopio FEI TENEO

El Servicio General de Investigación (SGI) de Microscopía de la Universidad de Sevilla, ha abierto el plazo de inscripción para tres cursos a través del Centro de Formación Permanente (CFP-US). Todos ellos son cursos reglados de 3 créditos ECTS.

1. APRENDIZAJE PRÁCTICO EN EL USO DEL ULTRAMICROTOMO LEICA UC7 (I EDICIÓN)

El objetivo es introducir al alumno en la preparación de muestras biológicas para TEM, centrándose fundamentalmente en la obtención de cortes mediante el ultramicrotomo Leica UC7. Se pretende que el alumno adquiera la capacidad necesaria para manejar dicho equipo de manera autónoma.

El curso consta de una parte teórica, y una parte práctica compuesta por 3 sesiones demostrativas sobre la fabricación de cuchillas, manejo del ultramicrotomo y visualización de los cortes en el TEM Libra 120. Concluirá con sesiones prácticas individuales para el entrenamiento del alumno en el ultramicrotomo

PREINSCRIPCIÓN: 12/03/2018 al 20/04/2018

MATRÍCULA:  01/04/2018 al 20/04/2018

IMPARTICIÓN: 28/05/2018 al 06/07/2018

PRECIO: 380 € (tasas incluidas)

NÚMERO DE CRÉDITOS: 3.00 ECTS

Para más información y realizar la preinscripción, por favor, consulta la siguiente dirección: http://www.cfp.us.es/cursos/fc/aprendizaje-practico-en-el-uso-del-ultramicrotomo-leica-uc7/3557/

Dudas contactar con Cristina Vaquero (cvaquero@us.es).

2. CARACTERIZACIÓN ESTRUCTURAL Y COMPOSICIONAL DE MATERIALES MEDIANTE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO DE ALTA RESOLUCIÓN. CAPACITACIÓN EN EL MANEJO DEL MICROSCOPIO FEI TENEO

El objetivo del curso es formar adecuadamente a los alumnos, tanto a nivel teórico como práctico, en el uso de técnicas de microscopía electrónica de barrido de alta resolución.

Se pretende que, al finalizar el curso, los alumnos sean capaces de manejar, de modo autónomo y a nivel básico, el microscopio de última generación FESEM FEI TENEO. El curso es eminentemente práctico, conteniendo un total de 12 horas demostrativas en el microscopio

PREINSCRIPCIÓN: 19/03/2018 al 20/04/2018

MATRÍCULA:  02/04/2018 al 20/04/2018

IMPARTICIÓN: 21/05/2018 al 05/07/2018

PRECIO: 350 € (tasas incluidas)

NÚMERO DE CRÉDITOS: 3.00 ECTS

Para más información y realizar la preinscripción, por favor, consulta la siguiente dirección: http://www.cfp.us.es/cursos/fc/caracterizacion-estructural-y-composicional-de-materiales-mediante-microscopia-electronica-de-barrido-de-alta-resolucion-capacitacion-en-el-manejo-del-microscopio-fei-teneo/3555/

Dudas contactar con Consuelo Cerrillos (ccerrillos@us.es).

3. MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE TRANSMISIÓN DE ALTA RESOLUCIÓN. CAPACITACIÓN EN EL MANEJO BÁSICO DEL MICROSCOPIO FEGTEM FEI TALOS

El curso se centra en la formación, tanto a nivel teórico como práctico, para el uso de técnicas de microscopía electrónica de trasnmisión de alta resolución.

Al finalizar el curso, los alumnos deberían ser capaces de manejar, de modo autónomo y a nivel básico, el microscopio de última generación FEGTEM FEI TALOS. El curso tiene una elevada carga práctica, conteniendo un total de 11 horas demostrativas en el microscopio.

PREINSCRIPCIÓN: 12/03/2018 al 19/04/2018

MATRÍCULA:  01/04/2018 al 19/04/2018

IMPARTICIÓN: 14/05/2018 al 15/06/2018

PRECIO: 350 € (tasas incluidas)

NÚMERO DE CRÉDITOS: 3.00 ECTS

Para más información y realizar la preinscripción, por favor, consulta la siguiente dirección http://www.cfp.us.es/cursos/fc/microscopia-electronica-de-transmision-de-alta-resolucion-capacitacion-en-el-manejo-basico-del-microscopio-fegtem-fei-talos/3554/

Dudas contactar con Francisco Varela (fmvarela@us.es).

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