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Equipo de Fluorescencia de Rayos X (AXIOS)
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(ENERO 09) Cálculo de incertidumbre, límites de detección y de cuantificación para métodos de FRX |
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(ABRIL 09) Cálculo de incertidumbre, límites de detección y de cuantificación para métodos de FRX |
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(JULIO 09) Cálculo de incertidumbre, límites de detección y de cuantificación para métodos de FRX |
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(NOVIEMBRE 09) Cálculo de incertidumbre, límites de detección y de cuantificación para métodos de FRX |
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(MARZO 10) Cálculo de incertidumbre, límites de detección y de cuantificación para métodos de FRX |
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(AGOSTO 10) Cálculo de incertidumbre, límites de detección y de cuantificación para métodos de FRX |
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(ABRIL 11) Cálculo de incertidumbre, límites de detección y de cuantificación para métodos de FRX |
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Equipo de Difracción de Rayos X con intercambiador (D8I-90)
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(17-03-09) Medida de patrón de Corindón en equipo D8I tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(13-05-09) Medida de patrón de Corindón en equipo D8I tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(25-09-09) Medida de patrón de Corindón en equipo D8I tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(13-04-10) Medida de patrón de Corindón en equipo D8I tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(26-05-10) Medida de patrón de Corindón en equipo D8I tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(23-07-10) Medida de patrón de Corindón en equipo D8I tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(24-11-10) Medida de patrón de Corindón en equipo D8I tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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Tras la actualización del equipo a un modelo superior con detector lineal, (31-05-11) medida de patrón de Corindón en equipo D8I-90 tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(19-09-11) Medida de patrón de Corindón en equipo D8I-90 tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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Equipo de Difracción de Rayos X con cámaras de Temperatura (D8C)
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(19-03-09) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de baja temperatura TTK450 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(14-04-09) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de alta temperatura XRK900 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(20-04-09) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de baja temperatura TTK450 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(11-05-09) Medida de patrón de Corindón en equipo D8C en configuración Bragg-Brentano tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(14-05-09) Medida de patrón de Corindón en equipo D8C en configuración Göbel-Sollers paralelos tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(15-05-09) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de baja temperatura TTK450 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(23-07-09) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de alta temperatura XRK900 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(25-09-09) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de baja temperatura TTK450 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(14-04-10) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de baja temperatura TTK450 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(26-05-10) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de alta temperatura XRK900 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(31-05-10) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de baja temperatura TTK450 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(12-01-11) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de baja temperatura TTK450 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(02-03-11) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de baja temperatura TTK450 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(22-03-11) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de alta temperatura XRK900 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(25-03-11) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de baja temperatura TTK450 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(11-07-11) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de alta temperatura XRK900 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(09-09-11) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de baja temperatura TTK450 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(28-09-11) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de alta temperatura XRK900 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(18-01-12) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de baja temperatura TTK450 a temperatura ambiente, con configuración Göbel-Sollers paralelos tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(22-03-12) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de alta temperatura XRK900 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
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(09-05-12) Medida de patrón de Silicio en equipo D8C con cámara de baja temperatura TTK450 a temperatura ambiente, tras la calibración y comparación con el valor del patrón |
