| NOVEDADES |
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20 al 23 de Febrero de 2012
Los técnicos del SGI Laboratorio de Rayos X, Agustín Cota Reguero, Santiago Medina Carrasco y Francisco Rodríguez Padial, reciben un curso de formación en el software APEX2 de BRUKER para medida y resolución de estructuras cristalinas. El curso fue a cargo del Dr. Holger Ott, Científico de Aplicaciones Químicas Cristalográficas de BRUKER.
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Noviembre de 2011
El Laboratorio de Rayos X participa en la ronda 30 del análisis interlaboratorios de la "International Association of Geonalysts".
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Octubre de 2011
El laboratorio de Rayos X organiza dos cursos: Introducción al análisis de Difractogramas y Aplicación de métodos de refinamiento y ajuste al estudio de difractogramas, y cuantificación de fases cristalinas. Los cursos se realizan en colaboración entre BRUKER y el SGI Laboratorio de Rayos X del CITIUS, con la formación a cargo de: Dra. Mª Dolores Alba Carranza (ICMSE-CSIC), Dra. Patricia Aparicio Fernández (Universidad de Sevilla, CITIUS), D. Santiago Medina Carrasco (Universidad de Sevilla, CITIUS) Dra. Esperanza Pavón González (Universidad de Sevilla). Asistentes personal técnico e investigador de Universidades e Industria.
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Abril de 2011
El Laboratorio de Rayos X participa en la ronda 29 del análisis interlaboratorios de la "International Association of Geonalysts".
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Mayo de 2011
El laboratorio de Rayos X actualiza el equipo de difracción D8I con intercambiador de muestras a un modelo de 90 posiciones, además de incorporar un detector lineal que aumenta la resolución de las medidas en varios órdenes de magnitud.
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Febrero de 2011
El laboratorio de Rayos X organiza un curso práctico de manejo de las cámaras de temperatura TTK450 y XRK900 de Anton Paar, aplicadas a un equipo D8 Advance de Bruker. El curso que fue eminentemente práctico, fue realizado en colaboración entre CITIUS y BRUKER, con la formación a cargo del Técnico del SGI Laboratorio de Rayos X, Santiago Medina Carrasco. Como asistentes estuvieron personal técnico e investigador de la Universidad de Oviedo.
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Enero de 2011
La gestión de muestras del Laboratorio de Rayos X se comienza a realizar con una aplicación telemática.
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19 de octubre de 2010
Participación del Laboratorio de Rayos X del CITIUS en la VIII Reunión de usuarios de FRX y DRX de Panalytical.
Una parte del equipo técnico se encontró presente en esta reunión que este año se desarrolló en Madrid, con presentaciones por parte de los técnicos de Panalytical.
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Octubre de 2010
El Laboratorio de Rayos X participa en la ronda 28 del análisis interlaboratorios de la "International Association of Geonalysts".
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Marzo de 2010
El laboratorio de Rayos-X participa en la ronda 27 del análisis interlaboratorios de la "International Association of Geonalysts".
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Diciembre de 2009
El laboratorio de Rayos-X participa en la ronda 26 del análisis interlaboratorios de la "International Association of Geonalysts".
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Junio de 2009
Los miembros del personal técnico del Laboratorio de Rayos X; Santiago Medina Carrasco y Alberto Ortega Galván, asisten al 4th TOPAS USERS´ MEETING: "DEVELOPMENT AND APPLICATION OF MACROS USING THE ALGEBRAIC LANGUAGE OF TOPAS". La reunión se desarrolló en Trento (Italia) del 18 al 20 de junio de 2009, con la organización a cargo de la Universidad de Trento, el Max Planck Institute for Solid State Research (Stuttgart, Alemania) y BRUKER. Esta reunión trató principalmente sobre el uso de macros programadas en el lenguaje específico de TOPAS para el estudio de diversos sistemas cristalinos.
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Abril de 2009
El laboratorio de Rayos X organiza un curso para medidas de difracción con cámaras de temperatura y humedad en condiciones no ambientales. El curso que constó de una parte práctica y otra teórica, fue realizado en colaboración entre CITIUS, BRUKER y ANTON PAAR, con la formación a cargo de Stefan Haaga (BRUKER, Alemania), Christian Resch (ANTON PAAR, Austria), Santiago Medina Carrasco (CITIUS, Laboratorio de Rayos X) y Miguel Ángel Castro Arroyo (Director de los Servicios Generales de Investigación). Este último junto a Francis De Prins (BRUKER, Bélgica) formaron el comité organizador.
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Marzo de 2009
El laboratorio de Rayos-X participa en la ronda 25 del análisis interlaboratorios de la "International Association of Geonalysts".
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Marzo de 2009
El laboratorio de Rayos-X pone en funcionamiento un reactor de la marca PARR que permite trabajar a altas presiones y temperaturas máximas de 350 ºC.
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Marzo de 2009
El laboratorio de Rayos-X incorpora a su material auxiliar un horno de la marca NABERTHERM que opera en un rango de temperatura entre ambiente y 1100 ºC.
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Octubre de 2008
El laboratorio de Rayos-X participa en la ronda 24 del análisis interlaboratorios de la "International Association of Geonalysts".
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2 a 27 de junio de 2008
Impartición del Curso del Centro de Formación Permanente de la Universidad de Sevilla:
LA DIFRACCIÓN DE RAYOS-X. INTRODUCCIÓN AL ANÁLISIS DE DIFRACTOGRAMAS.
Este curso, impartido por María Dolores Alba Carranza, Patricia Aparicio Fernández, Ana Isabel Becerro Nieto, Miguel Ángel Castro Arroyo y María del Mar Orta Cuevas, desarrolló su parte práctica en nuestras laboratorios, en las tareas de preparación, montaje y medida de muestras a cargo de nuestros técnicos. Se usaron a su vez los programas informáticos disponibles en nuestras instalaciones.
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Mayo de 2008
El laboratorio de Rayos-X participa en la ronda 23 del análisis interlaboratorios de la "International Association of Geonalysts" con dos muestras.
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Diciembre de 2007
El laboratorio de Rayos-X participa en la ronda 22 del análisis interlaboratorios de la "International Association of Geonalysts".
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Octubre de 2007
Se pone al servicio la comunidad universitaria a través de la red de la Universidad de Sevilla, los programas de la empresa BRUKER; EVA y TOPAS, para interpretación de difractogramas y cuantificación de fases cristalinas.
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Marzo de 2007
El laboratorio de Rayos-X participa en la ronda 21 del análisis interlaboratorios de la "International Association of Geonalysts".
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Diciembre de 2006
El laboratorio de Rayos-X participa en la ronda 20 del análisis interlaboratorios de la "International Association of Geonalysts".
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5 a 16 de junio de 2006
Impartición del Curso de Extensión Universitaria:
LA DIFRACCIÓN DE RAYOS-X. INTRODUCCIÓN AL ANÁLISIS DE DIFRACTOGRAMAS.
Este curso, impartido por Miguel Ángel Castro Arroyo, desarrolló su parte práctica en nuestras laboratorios, en las tareas de preparación, montaje y medida de muestras. Se usaron a su vez los programas informáticos disponibles en nuestras instalaciones.
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30,31 mayo de 2006
Participación del Laboratorio de Rayos X del CITIUS en la VII Reunión de usuarios de FRX y DRX de Panalytical.
Una parte del equipo técnico se encontró presente en esta reunión anual que este año se desarrolló en Córdoba, con presentaciones por parte de los técnicos de Panalytical y de usuarios.
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Marzo de 2006
El laboratorio de Rayos-X participa en el análisis interlaboratorios de la "International Association of Geonalysts".
Se participará en este análisis en su ronda 19, a partir de marzo de 2006. Este análisis interlaboratorios servirá para mejorar la calidad de los resultados del equipo de fluorescencia de Rayos-X AXIOS, ya que se compararán sus resultados con los obtenidos en otros muchos laboratorios con técnicas muy diversas.
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19 a 21 de Octubre de 2011
CURSO APLICACIÓN DE MÉTODOS DE REFINAMIENTO Y AJUSTE AL ESTUDIO DE DIFRACTOGRAMAS. CUANTIFICACIÓN DE FASES CRISTALINAS
Organización: BRUKER y el SGI Laboratorio de Rayos X de los Servicios Generales de Investigación de la Universidad de Sevilla)
Dirección: Dra. Patricia Aparicio Fernández
Finalidad: El principal objetivo del curso es posibilitar que el alumnado adquiera una formación especializada en métodos de refinamiento y ajuste aplicados al estudio de difractogramas, se realizará un gran hincapié en la cuantificación de fases cristalinas y amorfos. Este curso incluye el manejo de aplicaciones informáticas, tales como el Paquete Informático TOPAS. Se formará al alumno en el análisis de difractogramas mediante la aproximación de parámetros fundamentales (métodos de ajuste de Pawley y Lebail), análisis microestructural, método Rietveld y análisis cuantitativo de fases cristalinas y amorfos usando TOPAS.
Profesorado: Dra. Mª Dolores Alba Carranza (ICMSE-CSIC), Dra. Patricia Aparicio Fernández (Universidad de Sevilla), D. Santiago Medina Carrasco (Universidad de Sevilla) Dra. Esperanza Pavón González (Universidad de Sevilla).
Asistentes: Personal técnico e investigador de Universidad e Industria.
 Folleto Inscripción Curso de Aplicación de métodos de refinamiento y ajuste al estudio de difractogramas. Cuantificación de fases cristalinas. 2011
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17 a 19 de Octubre de 2011
CURSO LA DIFRACCIÓN DE RAYOS X. INTRODUCCIÓN AL ANÁLISIS DE DIFRACTOGRAMAS
Organización: BRUKER y el SGI Laboratorio de Rayos X de los Servicios Generales de Investigación de la Universidad de Sevilla)
Dirección: Dra. Patricia Aparicio Fernández
Finalidad: El principal objetivo del curso es posibilitar que el alumnado adquiera una formación inicial en distintas técnicas instrumentales utilizadas en las medidas de difracción de Rayos X, así como formarlo para la interpretación cualitativa y cuantitativa de los diagramas de difracción. Se introducirá al alumno en el manejo de aplicaciones informáticas incluidas en en el soporte Diffrac Suite.
Profesorado: Dra. Mª Dolores Alba Carranza (ICMSE-CSIC), Dra. Patricia Aparicio Fernández (Universidad de Sevilla), D. Santiago Medina Carrasco (Universidad de Sevilla) Dra. Esperanza Pavón González (Universidad de Sevilla).
Asistentes: Personal técnico e investigador de Universidad e Industria.
Folleto Inscripción Curso de Introducción al análisis de Difractogramas 2011
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23 a 25 de Febrero de 2011
CURSO PRÁCTICO DE MANEJO DE LAS CÁMARAS DE TEMPERATURA TTK450 Y XRK900 DE ANTON PAAR, APLICADAS A UN EQUIPO D8ADVANCE DE BRUKER:
Organización: BRUKER y el SGI Laboratorio de Rayos X de los Servicios Generales de Investigación de la Universidad de Sevilla)
Finalidad: Curso eminentemente práctico de manejo y ajuste de las cámaras de temperatura TTK450 y XRK900 de Anton Paar, aplicadas a un equipo D8 Advance de Bruker.
La formación fue llevada a cabo por D. Santiago Medina Carrasco (técnico del SGI Laboratorio de Rayos X del CITIUS).
Asistentes: Personal técnico e investigador de la Universidad de Oviedo.
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30 de marzo a 1 de abril de 2009
CURSO DE HARDWARE PARA MEDIDAS NO AMBIENTALES EN DIFRACCIÓN:
BRUKER AXS TRAINING IN ENGLISH. XRD NON AMBIENT AND DIFFRACCPLUS.
Organización: D. Francis de Prins (BRUKER, Bélgica) y D. Miguel Ángel Castro Arroyo (Director de los Servicios Generales de Investigación de la Universidad de Sevilla)
Finalidad: El curso trató principalmente del manejo práctico de equipos de difracción con cámaras de temperatura, de control de humedad y de reacción para análisis in situ, así como la influencia de las principales geometrías, radiaciones, métodos de preparación y propiedades de las muestras. El curso se realizó tanto en sesiones teóricas como prácticas con muestras reales de los usuarios.
La formación fue llevada a cabo por D. Stefan Haaga (BRUKER, Alemania), D. Christian Resch (ANTON PAAR, Austria), D. Miguel Ángel Castro Arroyo y D. Santiago Medina Carrasco (técnico del Laboratorio de Rayos X del CITIUS).
Folleto informativo del curso:
Folleto Curso XRD Non Ambient CITIUS 2009
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2 a 27 de junio de 2008
CURSO DEL CENTRO DE FORMACIÓN PERMANENTE:
LA DIFRACCIÓN DE RAYOS-X. INTRODUCCIÓN AL ANÁLISIS DE DIFRACTOGRAMAS
Dirección: D. Miguel Ángel Castro Arroyo
Finalidad: El curso incluyó técnicas de interpretación cualitativa de los diagramas de difracción de Rayos X, incluyendo el manejo de aplicaciones informáticas que permiten el empleo de las bases de datos cristalográficos para la detección de fases cristalinas, asimismo realización de análisis cuantitativo de las diferentes fases halladas mediante el empleo de procedimientos estandarizados de cálculo y la introducción del alumno en el manejo de aplicaciones informáticas que analizan los diagramas experimentales a través del método Rietveld.
La formación fue llevada a cabo por Dª María Dolores Alba Carranza, Dª Patricia Aparicio Fernández, Dª Ana Isabel Becerro Nieto, D. Miguel Ángel Castro Arroyo y Dª María del Mar Orta Cuevas.
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5 a 16 de junio de 2006
CURSO DE EXTENSIÓN UNIVERSITARIA:
LA DIFRACCIÓN DE RAYOS-X. INTRODUCCIÓN AL ANÁLISIS DE DIFRACTOGRAMAS
Dirección: D. Miguel Ángel Castro Arroyo y Dª Patricia Aparicio Fernández
Finalidad: En primer lugar, suministrar una formación respecto de la interpretación cualitativa de los diagramas de difracción, incluyendo el manejo de aplicaciones informáticas que permiten el empleo de las bases de datos cristalográficos para la detección de fases cristalinas; en el segundo lugar, el análisis cuantitativo de las diferentes fases halladas mediante el empleo de procedimientos estandarizados de cálculo; y en tercer lugar, introducir al alumno en el manejo de aplicaciones informáticas que analizan los diagramas de difracción experimentales a través del conocido método de Rietveld.
La formación fue llevada a cabo por D. Miguel Ángel Castro Arroyo.
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6 a 9 de marzo de 2006
CURSO DE EXTENSIÓN UNIVERSITARIA:
INICIACIÓN A LAS TÉCNICAS INSTRUMENTALES DE ANÁLISIS EN EL SERVICIO DE MICROANÁLISIS
Dirección: D. Alfonso Guiraum Pérez
Finalidad: Posibilitar al alumnado que adquiera una formación inicial en distintas técnicas instrumentales utilizadas en el Servicio de Microanálisis. El curso incluyó técnicas de Espectroscopia de Emisión por plasma ICP, Fluorescencia y Microfluorescencia de Rayos X, Analizador elemental de Carbono, Hidrógeno, Nitrógeno y Azufre y Electroforesis capilar. El curso contó además con un módulo práctico en el que los alumnos entraron en contacto con el instrumental científico del que dispone la Universidad de Sevilla para el análisis de muestras.
La formación en las técnicas de Fluorescencia y Microfluorescencia se desarrolló en los laboratorios de Rayos X del CITIUS. La introducción teórica fue a cargo de D. Adolfo Miras Ruíz y la parte práctica y la preparación de muestras la realizaron los técnicos D. Francisco Rodríguez Padial y D. Santiago Medina Carrasco, ambos miembros del equipo técnico de los laboratorios de Rayos X del CITIUS.
Descargar presentaciones:
Primera Parte Segunda Parte
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4 a 7 de octubre de 2005
CURSO PRÁCTICO DE CUANTIFICACIÓN POR RIETVELD
Curso Práctico de Cuantificación de Fases de Difracción de Polvo por Rayos X mediante el Software Diffrac Plus Topas
Coordinado por D. Miguel Ángel Castro Arroyo.
Impartido por D. Rainer Schmidt, técnico de Bruker.
En este curso se trató ampliamente el manejo del software "Diffrac Plus Topas" de Bruker, que permite por análisis de Rietveld la cuantificación de fases cristalinas mediante difracción de polvo por Rayos X.
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16 a 18 de mayo de 2005
SEGUNDO CURSO DE MICROFLUORESCENCIA
SEGUNDO CURSO DE MANEJO DEL EQUIPO DE MICROFLUORESCENCIA EAGLE III
A cargo de D. Alan Seaman, especialista en la técnica.
Curso de manejo del equipo de microfluorescencia EAGLE III. Este curso se destinó a todos aquellos usuarios, grupos de investigación y empresas, que estaban interesados en conocer las posibilidades del equipo de microfluorescencia.
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15 a 17 de marzo de 2005
CURSO DE FLUORESCENCIA
PRIMER CURSO DE MANEJO DEL EQUIPO DE FLUORESCENCIA AXIOS
A cargo de D. Carlos Jiménez Rivero y D. Javier Bolívar, técnicos de Panalytical.
Curso de introducción al equipo de fluorescencia AXIOS. Este curso se destinó a todos aquellos usuarios interesados en conocer las posibilidades de la técnica.
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10 de noviembre de 2004
CICLO DE CHARLAS TÉCNICAS DE LOS SGI DEL CITIUS:
INTRODUCCIÓN A LAS TÉCNICAS UTILIZADAS EN LOS LABORATORIOS DE RAYOS X DEL CITIUS.
Impartida por D. Francisco Rodríguez Padial, técnico de los Laboratorios de Rayos X del CITIUS. Esta charla se enmarcó dentro del ciclo de charlas organizado por el CITIUS sobre las diferentes técnicas disponibles.
Descargar presentación:
Primera Parte Segunda Parte
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13 a 15 de mayo de 2004
PRIMER CURSO DE MICROFLUORESCENCIA
PRIMER CURSO DE MANEJO DEL EQUIPO DE MICROFLUORESCENCIA EAGLE III
A cargo de D. Alan Seaman, especialista en microfluorescencia.
Curso de introducción al manejo del equipo de microfluorescencia EAGLE III. Este curso se destinó a todos aquellos usuarios interesados en conocer las posibilidades de la técnica.
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5 a 9 de abril de 2004
CURSO DE DIFRACCIÓN DE POLVO POR RAYOS X
INTRODUCCIÓN A LA DIFRACCIÓN DE POLVO. FUNDAMENTO Y PRINCIPALES APLICACIONES
A cargo de D. Francesc Guirado i Gispert, Técnico de difracción de Rayos-X del Servicio de Recursos Científicos y Técnicos de la Universitat Rovira i Virgili, Tarragona.
Objetivo: Proporcionar una visión global de las posibilidades de la difracción de Rayos-X de polvo.
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