RADECS21 | La carrera espacial está llena de pequeños pasos, pasos que a veces parecen una mirada hacia atrás, pero que sin duda son un gran impulso hacia el futuro y nuevas tecnologías sorprendentes. Esto conlleva un gran aparataje electrónico, formado por componentes de tecnología punta que debemos proteger a toda costa. Queremos contribuir a evitar en lo posible volver a escuchar la frase: ‘Houston, tenemos un problema.’ Tradicionalmente, el enfoque para asegurar la fiabilidad de todos los componentes electrónicos que van a bordo de una misión espacial pasa por testearlos y caracterizarlos previamente, aquí en la Tierra. Esto implica que existe mucha información disponible de ensayos previos realizados. Haciendo un arduo trabajo de recolección y parametrización de toda esa información, se puede evaluar y catalogar los daños de los dispositivos estudiados. Gracias a la inmensa cantidad de datos guardados a lo largo de diferentes años de investigación podemos obtener una valiosa estadística que nos ayude a predecir y caracterizar el daño que podemos recibir o tolerar. Todo ello con vistas a diseñar equipos y protecciones futuras para avanzar en la carrera espacial. Esta idea, ya utilizada anteriormente con un alcance más limitado, ha sido renovada gracias a la incorporación de nuevas herramientas provenientes de la inteligencia artificial, herramientas de las que dispone el Centro Nacional de Aceleradores (CNA). El equipo de investigación, formado por miembros del CNA, ALTER, UNED y CERN, está trabajando en la aplicación de Machine Learning para extraer la máxima información posible de los ensayos ya realizados. De esta forma se pretende predecir los resultados de futuros ensayos, o incluso convertirlos en innecesarios si se alcanzan grados de confianza suficientes. Los primeros resultados han sido presentados recientemente en el congreso RADECS2021. RADECS es el congreso científico e industrial europeo que se celebra anualmente en el que científicos e ingenieros intercambian sus últimos avances sobre los efectos de la radiación en materiales, dispositivos, circuitos, sensores y sistemas electrónicos y fotónicos. Autor de la noticia: CNA | 
