Antonio José Ginés Arteaga
Telefono: 954466666
Perfil en ORCID: 0000-0001-5272-5802
Perfil en WOS: L-1179-2014
Perfil en Scopus: 8241627500

Departamento/Unidad: Electrónica y Electromagnetismo
Situación profesional: Profesor Contratado Doctor

Responsable de los siguientes proyectos/ayudas en la US:

• Contrato con empresas (Arts. 68/83 LOU):
  • Adaptable Scalable Mixed-Signal Sensor/Actuator Front-End for Micro-C and FPGAs (3248/0859)
  • Prototipo de convertidor A/D de alta velocidad (150MSPS) y precisión (12 bits) con autocalibración endurecido contra radiación. (3372/0859)
  • Optimización de arquitecturas del convertidor Analógico-Digital 2SE-ADC12100-AERO (3158/0859)
  • Estudio sobre técnicas de calibración en convertidores Analógico-Digitales (2919/0859)
  
  

Participa en los siguientes proyectos/ayudas en la US:

• Proyecto de investigación:
  • Nuevos Paradigmas para el Test de Circuitos Integrados de Señal Mixta (TEC2015-68448-R - Equipo Trabajo (Solicitud))
  • Adaptando el Diseño y Test de Circuitos Integrados de Señal Mixta y de Rf a las Variaciones del Proceso y del Entorno (TEC2011-28302 - Investigador)
  • Auto-Calibración y Auto-Test en Circuitos Analógicos, Mixtos y de Radio Frecuencia (P09-TIC-5386 - Investigador)
  • Técnicas de diseño y test de circuitos integrados mixtos en tecnologías emergentes (EXC/2005/TIC-927 - Otro Investigador)
  
  
• Contrato con empresas (Arts. 68/83 LOU):
  • USECHIP: CÁTEDRA EN MICROELECTRÓNICA DE LA UNIVERSIDAD DE SEVILLA (TSI-069100-2023-001 - Investigador)
  
  
• Ayuda a la investigación:
  • Incentivo al Grupo de Investigación TIC-178 (2017/TIC-178 - Investigador)
  • Incentivo al Grupo de Investigación TIC-178 (2011/TIC-178 - Investigador)
  • Ayuda a la Consolidación del Grupo de Investigación TIC-178 (2009/TIC-178 - Investigador)
  • Ayuda a la Consolidación del Grupo de Investigación TIC-178 (2008/TIC-178 - Investigador)
  • Ayuda a la Consolidación del Grupo de Investigación TIC-178 (2007/TIC-178 - Investigador)
  
  

Participación en proyectos externos:

• Aproximación estadística a la simulación de defectos en circuitos Analógicos y de Señal Mixta complejos: aplicación a los eventos transitorios inducidos por la radiación (StatSET) (Consejo Superior de Investigaciones Científicas)

Cobertura de la base de datos de proyectos, véase aqui

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