Nuevo detector en el SGI de Microscopía | El Servicio General de Investigación (SGI) de Microscopía, ubicado en el Centro de Investigación, Tecnología e Innovación de la Universidad de Sevilla CITIUS, acaba de instalar un nuevo detector de alta sensibilidad de energías dispersivas por Rayos X (EDS) para el microscopio Zeiss Evo LS15, con una resolución de menos de 127 eV, área activa de 170 mm2 permitiendo aumentar la velocidad de adquisición hasta 17 veces más que uno convencional.
Además, tiene la posibilidad de adquisición en vivo, de realizar “mapping” de grandes áreas y programar la adquisición de múltiples capturas. | 
